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優(yōu)點：

?  量化薄膜的成分

?  層的厚度測量

?  檢測相互擴(kuò)散層

?  微米范圍多點分析

基本規(guī)格：

?  全自動多樣品縱深分析：PHI 4700薄膜分析儀在微小區(qū)域之縱深分析擁有絕佳的經(jīng)濟(jì)效益，可在SEM上特定微米等級之微小區(qū)域快速進(jìn)行深度分析。圖2顯示長年使用的移動電話鍍金電極正常與變色兩個樣品之縱深分析結(jié)果，兩者材質(zhì)皆為鍍金之錫磷合金。從電極二（變色電極）可看到金屬錫擴(kuò)散到鍍金膜上，因為界面的腐蝕而產(chǎn)生氧及錫導(dǎo)致電極變色。

?  靈敏度半球型能量分析器：PHI 4700半球形能量分析器和高傳輸輸入透鏡可提供最高的靈敏度和大幅縮短樣品分析時間。除此之外，具有全自動的量測功能，此裝置可在短時間內(nèi)測量多個樣品。 點選屏幕上軟件所顯示的樣品座，可以記錄欲量測的位置，對產(chǎn)品與工藝流程管理上之?dāng)?shù)據(jù)搜集可進(jìn)行個別分析。

?  10 kV LaB6掃瞄式電子槍：PHI的06-220電子槍是基于一個以LaB6為電子源燈絲以提供穩(wěn)定且長壽命電子槍的工具，主要在氬氣濺射薄膜時進(jìn)行深度分析。06-220電子槍還可以：產(chǎn)生二次電子成像，俄歇測繪和多點分析。在加速電壓調(diào)節(jié)從0.2至10千伏。電子束的最小尺寸可保證小于80納米。

?  浮動柱狀式Ar離子槍：PHI的FIG- 5B浮動柱狀式Ar離子槍:提供離子由5伏到5千伏。大電流高能量離子束被用于厚膜，低能量離子束（250-500 V）用于超薄膜。浮動柱狀式，確保高蝕刻率與低加速電壓。物理彎曲柱會阻止高能量的中性原子，從而改善了濺射坑形狀和減少對鄰近地區(qū)的濺射。

?  五軸電動樣品臺和Zalar方位旋轉(zhuǎn)：PHI 15-680精密樣品臺提供5軸樣品傳送：X，Y，Z，旋轉(zhuǎn)和傾斜。所有軸都設(shè)有馬達(dá)及軟件控制，以方便就多個樣品進(jìn)行的自動縱深分析。樣品臺提供Zalar（方位角）旋轉(zhuǎn)的縱深剖析，利用旋轉(zhuǎn)來降低樣品在一個固定位置上的擇優(yōu)濺射，以優(yōu)化縱深分析。

?  PHI SmartSoft用戶界面：PHI SmartSoft是一個被認(rèn)同為方便用者使用的操作儀器軟件。軟件透過任務(wù)導(dǎo)向和卷標(biāo)橫跨頂部的顯示指導(dǎo)用戶從輸入樣品，定義分析點，并設(shè)定分析。多個分析點的定義和最理想樣品的定位是由一個強(qiáng)大的“自動Z軸定位”功能所提供。預(yù)存多樣的操作設(shè)定，可讓新手能夠快速，方便使用。

可選用配備：

?  熱/冷樣品座

?  樣品真空傳送管（Sample Transfer vessel）

 應(yīng)用領(lǐng)域：

?  半導(dǎo)體薄膜產(chǎn)業(yè)

?  微電子封裝產(chǎn)業(yè)

?  無機(jī)光電產(chǎn)業(yè)