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冷場發(fā)射12極子球差校正透射電鏡
創(chuàng)新點(diǎn) 1)更穩(wěn)定的得到冷場發(fā)射電子槍; 2)更高級的自動球差校正軟件 3)更高效的能譜分析功能 上市時間:2020年2月
產(chǎn)品特點(diǎn)
■ 主要特點(diǎn)
1 超高空間分辨率與能譜分析的組合優(yōu)化。
新開發(fā)的FHP2物鏡極靴的特點(diǎn)如下:
1)提高了能譜分析效率到兩倍以上。
2)低光學(xué)系數(shù),低Cc系數(shù)和低Cs系數(shù)使得超高空間分辨率和高靈敏度X射線分析能夠在一定范圍的加速電壓下執(zhí)行。
(保證的STEM分辨率:300kV時53pm,80kV時96pm)*
*在配置STEM擴(kuò)展軌跡像差(ETA)校正器時
2 用于物鏡的超寬極靴(WGP)能譜分析靈敏度超高,原位擴(kuò)展極強(qiáng)。
1)WGP極靴的能譜固體角為2.2 sr。
2)WGP極靴寬度可達(dá)6mm,更方便進(jìn)行各種類型的原位實(shí)驗(yàn)。
3 JEOL開發(fā)的12極子球差(Cs)校正器和自動校正軟件。
1)FHP2極靴,GRAND ARM?2在300 kV時的STEM分辨率達(dá)到53 pm。
2)WGP極靴,GRAND ARM?2在300 kV時的STEM分辨率達(dá)到59 pm。
3)JEOL COSMO?(自動校正軟件)使快速,輕松執(zhí)行像差校正成為可能。
4 新式冷場發(fā)射槍(Cold-FEG)。
GRAND ARM?2配備了新式Cold-FEG,可從電子源提供較小的能量散布。穩(wěn)定性更好。
5 減輕外部干擾的外殼
這種新外殼是減少外部干擾(例如氣流,室內(nèi)溫度變化和噪音)的標(biāo)準(zhǔn)。
■ 主要規(guī)格
保證分辨率 | HAADF-STEM圖像:53pm(帶ETA校正器和FHP2) 電子槍:冷場發(fā)射槍(Cold-FEG) |
加速電壓 | 標(biāo)準(zhǔn):300kV和80kV |
能量色散X射線光譜儀 | 大面積SDD(158mm 2):可以使用雙探測器 |
產(chǎn)品介紹
2020年02月14日,日本電子(JEOL Ltd.)總裁兼首席運(yùn)營官Izumi Oi宣布發(fā)布全新原子分辨率分析電子顯微鏡JEM-ARM300F2(GRAND ARM?2),該電子顯微鏡將于2020年2月發(fā)布